
光谱仪样品膜美国进口样品膜麦拉膜样品薄膜
发布时间:06月26日
详细说明
样品膜,麦拉膜,样品薄膜在用X荧光光谱仪进行ROHS检测,WEEE检测和一般材料成分分析时,由于样品的不规则(特别是液体、粉末等),需要借助样品杯和薄膜辅助检测;但不合适的样品薄膜往往造成样品污染并影响材料成分分析的X射线信号和检测结果。
选择适当的薄膜材料对于分析结果至关重要。 在现有的众多不同的物质类型中,只有为数不多的几种具备能满足光谱化学需要的一致性和化学、物理属性。
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