
AND-001薄膜测厚仪,薄膜厚度仪,薄膜厚度计
发布时间:07月29日
详细说明
AND-001薄膜测厚仪
关键词:薄膜测厚仪 薄膜厚度仪 薄膜厚度计
主要用途及特点:
本仪器适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度(不适用于压花的薄膜和薄片)、读数直观,使用方便。执行GB/T6672-2001标准。
技术参数:
测量范围:0-1㎜
分度值:0.001㎜
上测头曲率半径:15~50㎜
测头对试样施加负荷:0.1~0.5N
济南艾德诺仪器公司
联系人:马凤梅 女士 (网络销售)
电 话:15553141286
传 真:0531-87525580
手 机:13064012395
Q Q:

地 址:中国山东济南市济南天桥区济洛路170号
邮 编:250000
网 址:
http://123qinger.yiwz.com(
加入收藏)